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FIB-REM

Investition eines hochauflösenden Focused-Ion-Beam Rasterelektronenmikroskops

Prof. Dr. Ursula Koch
Fakultät für angewandte Naturwissenschaften


Ziel der Beschaffung eines Rasterelektronenmikroskops mit Ionenstrahl oder auch Focused-Ion-Beam ((FIB)-REMs ist es, die Qualität der Forschung besonders im mikro- bis nanoanalytischen Bereich in verschiedenen Fakultäten und Arbeitsgruppen der Hochschule München zu verbessern.


Von den 20 ProfessorInnen des Forschungsschwerpunktes "Produktion & Werkstoffe" werden 9 KollegInnen das hier beantragte Rasterelektronenmikroskop mit integrierten Focus-Ion-Beam (FIB-REM) direkt in den jeweiligen Forschungsprojekten nutzen und die Forschungsaktivitäten auf ein höheres wissenschaftliches Niveau heben können, da über die bereits zur Verfügung stehenden Methoden, zum einen hochauflösende Charakterisierungen möglich werden und zum anderen mit Hilfe des Focus-Ion-Beam Präparationen der Proben durchgeführt werden können. Hierzu erschließen sich neue Forschungsfragestellungen und damit neue Forschungsprojekte und zusätzliche Kooperationen mit Unternehmen.


Das Forschungsprojekt wurde vom 15.07.2016 bis 14.07.2017 durch das Bundesministerium für Bildung und Forschung (BMBF) gefördert.